Mikroskopvorrichtung, Verfahren zur Messung des Brechungsindex einer Probe mit der Mikroskopvorrichtung und Programm zur Messung des Brechungsindex einer Probe mit der Mikroskopvorrichtung
EP4224235
Art B1
24. Dezember 2025
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4224235
- Aktenzeichen
- EP21874992
- Anmeldetag
- 25. August 2021
- Veröffentlichung
- 24. Dezember 2025
- Erteilung
- 24. Dezember 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B21/06G02B21/36G01N21/64G01N21/41
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München