Optisches Inspektionsverfahren, Optisches Inspektionsprogramm, Verarbeitungsvorrichtung und Optisches Inspektionsgerät
EP4249897
Art A1
27. September 2023
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4249897
- Aktenzeichen
- EP22191681
- Anmeldetag
- 23. August 2022
- Veröffentlichung
- 27. September 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München