Vorrichtung und Verfahren für Dualkammabstandsmetrologie mit Multiphotonendetektion
EP4256367
Art B1
20. August 2025
Anmelder: Renishaw PLC 🇬🇧
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4256367
- Aktenzeichen
- EP21824640
- Anmeldetag
- 1. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 20. August 2025
- Erteilung
- 20. August 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/4861G01S7/4865G01S17/10G01C3/00G01J11/00G04F13/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Renishaw PLC
- Land
- 🇬🇧 Großbritannien
🇬🇧
Renishaw
Renishaw ist ein britischer Hersteller von Präzisionsmesstechnik und Metrologiesystemen für die industrielle Fertigung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Fertigungstechnik, ergänzt durch Steuerungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
793 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Dunn, Paul Edward
Farnborough, Großbritannien
259
Patente gesamt
17
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte