Interferenzunempfindliches Littrow-System zur Strukturmessung einer Optischen Vorrichtung
EP4275030
Art A1
15. November 2023
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4275030
- Aktenzeichen
- EP21918067
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 15. November 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01M11/02G02B27/12G01B11/14G01B11/26G02B5/18G02B27/01
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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