System und Verfahren zur Inspektion einer Komponente für einen Anomalen Bereich
EP4276747
Art B1
24. Dezember 2025
Anmelder: RTX Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4276747
- Aktenzeichen
- EP23171695
- Anmeldetag
- 4. Mai 2023
- Veröffentlichung
- 24. Dezember 2025
- Erteilung
- 24. Dezember 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/00G05B23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RTX Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
10.206 Patente in unserer Datenbank