Abgasüberwachungsvorrichtung zur Kontrolle der Adhäsion von Photoresists

EP4278376 Art A1 22. November 2023

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4278376
Aktenzeichen
EP22740099
Anmeldetag
14. Januar 2022
Veröffentlichung
22. November 2023
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/027H01L21/67G01N33/00G03F7/16
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

3.600 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von
Zeller, Andreas Texas Instruments Deutschland GmbH · Inhouse Freising, Deutschland
1.261
Patente gesamt
26
Fachgebiete
14
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