Uv-Strahlungsinspektionswerkzeug, Uv-Strahlungsinspektionskit und Uv-Strahlungsinspektionsverfahren
EP4299691
Art A1
3. Januar 2024
Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4299691
- Aktenzeichen
- EP22759329
- Anmeldetag
- 4. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 3. Januar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J1/50G01J1/42G03C1/685
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München