Analysevorrichtung, Probenherstellungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung, Betriebsverfahren für Probenherstellungsvorrichtung und Betriebsverfahren für Inspektionsvorrichtung
EP4306631
Art B1
28. Januar 2026
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4306631
- Aktenzeichen
- EP21930073
- Anmeldetag
- 9. März 2021
- Veröffentlichung
- 28. Januar 2026
- Erteilung
- 28. Januar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C12M1/34G01N35/00G16H10/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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