Verfahren zur Bewertung von Kristalldefekten eines Siliciumcarbid-Einkristallwafers

EP4310893 Art A1 24. Januar 2024

Anmelder: Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4310893
Aktenzeichen
EP22771048
Anmeldetag
25. Februar 2022
Veröffentlichung
24. Januar 2024
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/66C30B29/36G01N21/956G01N21/95
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Shin-Etsu Handotai Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Shin-Etsu Handotai

Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.

1.022 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
Vertreten von
Mooser, Sebastian Thomas Wuesthoff & Wuesthoff München, Deutschland
1.437
Patente gesamt
29
Fachgebiete
15
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Nachrichtentechnik & Telekommunikation Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente Haushalts-, Möbel- & Konsumgüter Elektrische Energietechnik
Zum Anwaltsprofil
Kanzlei
Wuesthoff & Wuesthoff München, Deutschland

Wuesthoff & Wuesthoff wurde 1927 in Berlin von Dr. Franz und Dr. Freda Wuesthoff gegründet, die erste deutsche Patentanwältin, und zog 1949 nach München. Schwerpunkte liegen in Biotechnologie und Life Sciences, beraten wird auch auf Chinesisch, Koreanisch und Japanisch.

29.952
Patente gesamt
15
Patentanwälte
1
Standorte

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen