Inspektionsverfahren, Leitfähiges Element und Inspektionsvorrichtung
EP4318556
Art A1
7. Februar 2024
Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4318556
- Aktenzeichen
- EP22779492
- Anmeldetag
- 2. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 7. Februar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G01N21/64G01N21/88G01N21/95G01N21/956G01R31/26H10H20/01
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hamamatsu Photonics K.K.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hamamatsu Photonics
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München