Analyseverfahren, Analysevorrichtung, Messverfahren, Messvorrichtung, Belichtungsverfahren und Belichtungsvorrichtung
EP4328544
Art A1
28. Februar 2024
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4328544
- Aktenzeichen
- EP22791619
- Anmeldetag
- 8. April 2022
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B21/00G03F7/20G03F7/00G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München