Neigungsschätzsystem, Neigungsschätzverfahren, Neigungsschätzprogramm, Halbleiterinspektionssystem und Organismusbeobachtungssystem

EP4336255 Art A1 13. März 2024

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4336255
Aktenzeichen: EP22845617
Anmeldetag: 10. März 2022
Veröffentlichung: 13. März 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G06T7/73G03B15/00G03B17/56G01B11/26H01L21/66G02B21/26G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

1.968 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von