Inspektionssystem, Inspektionsverfahren und Speichermedium

EP4339635 Art A1 20. März 2024

Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4339635
Aktenzeichen
EP23160157
Anmeldetag
6. März 2023
Veröffentlichung
20. März 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01S7/41G01S13/86G01S13/87G01S13/88G01S13/90
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

3.468 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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