Quellentreiber und Verfahren zur Erkennung von Rissen in einer Anzeigetafel

EP4350676 Art A1 10. April 2024

Anmelder: LX Semicon Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4350676
Aktenzeichen
EP23201882
Anmeldetag
5. Oktober 2023
Veröffentlichung
10. April 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G09G3/00G09G3/3291
Offizieller Volltext

Abstract

Disclosed are a source driver and a method of detecting crack of a display panel. A source driver may comprise a first circuit configured to apply first data to data lines connected to sub-pixels of a display panel to charge a first driving voltage; and a second circuit formed on the display panel that applies the first driving voltage to a detection line formed on the display panel to detect the presence of cracks in the display panel based on the illumination status of the sub-pixels, wherein the detection line includes a first detection node and a second detection node formed on one side of the display panel along its extension direction, wherein the first detection node is connected to data lines of the first and third sub-pixels, and wherein the second detection node is connected to data line of the second sub-pixel.

Anmelder

Firma
LX Semicon Co., Ltd.
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 LX Semicon

LX Semicon ist ein südkoreanischer Hersteller von Display- und Halbleiterlösungen mit Sitz in Seoul, der aus der Ausgliederung der Halbleitersparte des LG-Konzerns hervorging. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Anzeige-, Signal- und Kontrolltechnik sowie Halbleiter- und Elektronikbauelemente. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2016 bis 2025 ab.

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