Positionsmessvorrichtung und Positionsmessverfahren
EP4354079
Art A1
17. April 2024
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4354079
- Aktenzeichen
- EP21945208
- Anmeldetag
- 11. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 17. April 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/00G01C15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
5.286 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
-
Arnold & Siedsma
Arnold & Siedsma · Den Haag