System und Verfahren zur Abbildung von Dickenvariationen von Substraten in Herstellungssystemen
EP4370865
Art A1
22. Mai 2024
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4370865
- Aktenzeichen
- EP22842721
- Anmeldetag
- 11. Juli 2022
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06G01B9/02G06T7/00G06N20/00H01L21/66C23C14/54
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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