Vorrichtung zur Analyse von Diffraktionsverlusten, Verfahren zur Analyse von Diffraktionsverlust und Aufzeichnungsmedium
EP4373015
Art A1
22. Mai 2024
Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4373015
- Aktenzeichen
- EP22869871
- Anmeldetag
- 7. September 2022
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B17/391H04B17/10H04B17/309
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
19.509 Patente in unserer Datenbank