Optisches Messverfahren und Optische Messvorrichtung

EP4414687 Art A1 14. August 2024

Anmelder: Ushio Denki Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4414687
Aktenzeichen
EP22889776
Anmeldetag
19. Oktober 2022
Veröffentlichung
14. August 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/27G01J3/10G01N21/85G01J3/02G01J3/28G01N21/31// G01N33/02G01N33/14G01N21/84
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Ushio Denki Kabushiki Kaisha
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Ushio Inc.

Japanischer Hersteller von Lichtquellen wie Speziallampen, Lasern und LED-Modulen für Industrie, Halbleiterfertigung und Optik mit Sitz in Tokio.

559 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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