Faserbasiertes Interferometer mit Hoher Dispersion für Erweiterte Tiefenbildgebung und Zugehörige Aspekte

EP4421442 Art A1 28. August 2024

Anmelder: Leica Microsystems Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4421442
Aktenzeichen: EP23160572
Anmeldetag: 7. März 2023
Veröffentlichung: 28. August 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01B9/02G01B9/02055G01B9/02056G01B9/02091G02B6/02A61B3/10A61B5/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Microsystems Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

949 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von