Auf Strukturiertem Licht Basierende Grabenprofilmessung für Pflanzreiheneinheit

EP4422383 Art A1 4. September 2024

Anmelder: Deere & Company, Iowa State University Research Foundation, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4422383
Aktenzeichen: EP23756767
Anmeldetag: 6. Februar 2023
Veröffentlichung: 4. September 2024
Rechtsraum: EP
IPC: A01B63/111A01B15/16A01B49/06G01B11/22A01B69/00A01C5/06A01C7/10G01B11/25H04N23/74A01C7/20A01C21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Deere & Company
Iowa State University Research Foundation, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Deere & Company

US-amerikanischer Hersteller von Landmaschinen, Baumaschinen und Forstmaschinen mit Sitz in Illinois, bekannt unter der Marke John Deere für Traktoren und Erntetechnik.

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Fachgebiete

Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von