System und Verfahren zur Überwachung von Interferenzen Dritter
Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4425169
- Aktenzeichen
- EP22887704
- Anmeldetag
- 28. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 4. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/04G01N29/07G01N29/12G01N29/48G01N29/44F17D5/06G01M5/00G01M7/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Korea Research Institute of Standards and Science
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.
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