Verfahren zur Optischen Vermessung von Technischen Oberflächen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP4426993
Art A1
11. September 2024
Anmelder: Breitmeier Messtechnik GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4426993
- Aktenzeichen
- EP22805859
- Anmeldetag
- 20. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 11. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/24G01B11/25
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Breitmeier Messtechnik GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Schoenen, Norbert
Moers, Deutschland
58
Patente gesamt
20
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte