Verfahren zur Herstellung eines Trägersubstrats mit einer Ladungseinfangschicht
EP4430652
Art B1
6. August 2025
Anmelder: SOITEC, Applied Materials Inc; 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4430652
- Aktenzeichen
- EP22802685
- Anmeldetag
- 25. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 6. August 2025
- Erteilung
- 6. August 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/02H01L21/762
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SOITEC
Applied Materials Inc; - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Soitec
Französischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Bernin, spezialisiert auf Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate. Patente decken Halbleitermaterialien und Waferbondtechnik ab.
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🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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