Optisches Inspektionsverfahren, Optisches Inspektionsprogramm und Optische Inspektionsvorrichtung
EP4435412
Art A1
25. September 2024
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, Toshiba Information Systems (Japan) Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4435412
- Aktenzeichen
- EP23196517
- Anmeldetag
- 11. September 2023
- Veröffentlichung
- 25. September 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G01N21/57G01N21/55
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
Toshiba Information Systems (Japan) Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
13.645 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München