Verfahren zur Charakterisierung eines Scanspiegels in einem Scansteuerungssystem, Scansteuerungssystem und Optisches Kohärenztomografiesystem mit Diesem Scansteuerungssystem
EP4439005
Art A1
2. Oktober 2024
Anmelder: Leica Microsystems Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4439005
- Aktenzeichen
- EP23164424
- Anmeldetag
- 27. März 2023
- Veröffentlichung
- 2. Oktober 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02091G01B9/02G01B9/02055G02B26/10G01B21/04G02B26/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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