Verfahren zur Charakterisierung eines Scanspiegels in einem Scansteuerungssystem, Scansteuerungssystem und Optisches Kohärenztomografiesystem mit Diesem Scansteuerungssystem

EP4439005 Art A1 2. Oktober 2024

Anmelder: Leica Microsystems Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4439005
Aktenzeichen
EP23164424
Anmeldetag
27. März 2023
Veröffentlichung
2. Oktober 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02091G01B9/02G01B9/02055G02B26/10G01B21/04G02B26/12
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Microsystems Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

949 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen