Hilfsvorrichtung für Endoskopische Untersuchung, Hilfssystem für Endoskopische Untersuchung, Hilfsverfahren für Endoskopische Untersuchung und Aufzeichnungsmedium
EP4442188
Art A1
9. Oktober 2024
Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4442188
- Aktenzeichen
- EP21966393
- Anmeldetag
- 2. Dezember 2021
- Veröffentlichung
- 9. Oktober 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B1/045A61B1/00A61B1/31G06T7/00G16H40/60// A61B1/267A61B1/273A61B34/20A61B34/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
18.204 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
-
Betten & Resch
Betten & Resch · München