Phasenkontrastbildgebungsverfahren zur Schätzung der Lokalen Stöchiometrie einer Probe

EP4453548 Art A1 30. Oktober 2024

Anmelder: Ecole Polytechnique, Ecole Nationale Superieure des Techniques Avancees, Centre National de la Recherche Scientifique 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4453548
Aktenzeichen: EP22830180
Anmeldetag: 2. Dezember 2022
Veröffentlichung: 30. Oktober 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01N23/041G01N23/087

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Ecole Polytechnique
Ecole Nationale Superieure des Techniques Avancees
Centre National de la Recherche Scientifique
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 Ecole Polytechnique

Die Ecole Polytechnique ist eine französische Ingenieurhochschule bei Paris mit starker naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt um Elektronik, Metallurgie und Optik. Anmeldungen laufen durchgehend von 2000 bis in die Gegenwart, unter anderem zu Photovoltaik.

350 Patente in unserer Datenbank

🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

13.144 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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