Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Verschmutzungsmessung einer Frontscheibe
Anmelder: SICK AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4468026
- Aktenzeichen
- EP23175231
- Anmeldetag
- 25. Mai 2023
- Veröffentlichung
- 14. Mai 2025
- Erteilung
- 14. Mai 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/481G01S7/497G01S17/42
Abstract
Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) angegeben, der eine Frontscheibe (44), eine Messeinheit (22), eine bewegliche Ablenkeinheit (12, 50) und eine mit der Ablenkeinheit (12) mitbewegte Verschmutzungsprüfeinheit (46) zum Erzeugen eines Verschmutzungsprüfempfangssignals aus an der Frontscheibe (44) reflektiertem Verschmutzungsprüflicht (48) aufweist. Dabei weist die Verschmutzungsprüfeinheit (46) mindestens zwei Verschmutzungsprüflichtsender (52) und/oder mindestens zwei Verschmutzungsprüflichtempfänger (54) auf, um mehrere Verschmutzungsprüfkanäle (56) zu bilden, und eine Steuer- und Auswertungseinheit (38) ist dafür ausgebildet, durch Auswerten eines Messempfangssignals der Messeinheit (22) das Objekt zu erfassen und durch Auswertung der mehreren Verschmutzungsprüfempfangssignale der mehreren Verschmutzungsprüfkanäle (56) die Verschmutzung der Frontscheibe (44) zu bewerten.
Anmelder
- Firma
- SICK AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen mit Sitz in Waldkirch, das Sensoren und Sensorlösungen für industrielle Automatisierung, Fabrik-, Logistik- und Prozessautomation entwickelt und herstellt.
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