Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Verschmutzungsmessung einer Frontscheibe

EP4468026 Art B1 14. Mai 2025

Anmelder: SICK AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4468026
Aktenzeichen
EP23175231
Anmeldetag
25. Mai 2023
Veröffentlichung
14. Mai 2025
Erteilung
14. Mai 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01S7/481G01S7/497G01S17/42
Offizieller Volltext

Abstract

Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) angegeben, der eine Frontscheibe (44), eine Messeinheit (22), eine bewegliche Ablenkeinheit (12, 50) und eine mit der Ablenkeinheit (12) mitbewegte Verschmutzungsprüfeinheit (46) zum Erzeugen eines Verschmutzungsprüfempfangssignals aus an der Frontscheibe (44) reflektiertem Verschmutzungsprüflicht (48) aufweist. Dabei weist die Verschmutzungsprüfeinheit (46) mindestens zwei Verschmutzungsprüflichtsender (52) und/oder mindestens zwei Verschmutzungsprüflichtempfänger (54) auf, um mehrere Verschmutzungsprüfkanäle (56) zu bilden, und eine Steuer- und Auswertungseinheit (38) ist dafür ausgebildet, durch Auswerten eines Messempfangssignals der Messeinheit (22) das Objekt zu erfassen und durch Auswertung der mehreren Verschmutzungsprüfempfangssignale der mehreren Verschmutzungsprüfkanäle (56) die Verschmutzung der Frontscheibe (44) zu bewerten.

Anmelder

Firma
SICK AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 SICK

Deutsches Unternehmen mit Sitz in Waldkirch, das Sensoren und Sensorlösungen für industrielle Automatisierung, Fabrik-, Logistik- und Prozessautomation entwickelt und herstellt.

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