Wafertestsystem, Verfahren zum Ersetzen einer Sondenkarte und Sondenvorrichtung
EP4468325
Art A1
27. November 2024
Anmelder: Tokyo Seimitsu Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4468325
- Aktenzeichen
- EP22920528
- Anmeldetag
- 12. Dezember 2022
- Veröffentlichung
- 27. November 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66H01L21/677
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Seimitsu Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Seimitsu
Tokyo Seimitsu ist ein japanischer Hersteller von Mess- und Fertigungsgeräten für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiterbauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Werkzeug- und Fertigungstechnik. Die Titel betreffen vor allem Bearbeitungsverfahren und -vorrichtungen für die Wafer- und Chipherstellung.
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