System zur Erkennung von Komponentenanomalien, Automatisierte Analysevorrichtung und Verfahren zur Erkennung von Komponentenanomalien
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION, F. Hoffmann-La Roche AG, Roche Diagnostics GmbH 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4481391
- Aktenzeichen
- EP22926087
- Anmeldetag
- 14. Dezember 2022
- Veröffentlichung
- 25. Dezember 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N35/00G01N35/08G01N35/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
F. Hoffmann-La Roche AG
Roche Diagnostics GmbH - Land
- 🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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Schweizer Pharma- und Diagnostikkonzern mit Sitz in Basel, gegründet 1896. Entwickelt Arzneimittel sowie Diagnostiksysteme für Labor- und klinische Anwendungen.
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Deutsche Tochtergesellschaft des Schweizer Roche-Konzerns mit Sitz in Mannheim, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Diagnostiksystemen, Labortests und medizinischen Analysegeräten.
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