Verbesserte Tomographische Brechungsindexprofilbewertung von nicht Axialsymmetrischen Glasfaservorformen und Fasern Selbst

EP4484928 Art A1 1. Januar 2025

Anmelder: Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG, Heraeus Quartz North America LLC 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4484928
Aktenzeichen: EP24181722
Anmeldetag: 12. Juni 2024
Veröffentlichung: 1. Januar 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/41G01M11/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG
Heraeus Quartz North America LLC
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Heraeus Quarzglas

Deutscher Hersteller von Quarzglas, das für optische Komponenten, Halbleiterfertigung, Beleuchtung und industrielle Anwendungen wie Lichtwellenleiter und Hochtemperaturprozesse eingesetzt wird.

370 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von