Testmustererzeugung mit mehreren Scan-Aktivierungen
EP4484977
Art A1
1. Januar 2025
Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4484977
- Aktenzeichen
- EP24179385
- Anmeldetag
- 31. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 1. Januar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics International N.V.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
733 Patente in unserer Datenbank