Ansteigende Flanke Basiert Laufzeit-Entfernungsmessungsverfahren mit Impulsverzerrungsimmunität

EP4485001 Art A1 1. Januar 2025

Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4485001
Aktenzeichen: EP24182204
Anmeldetag: 14. Juni 2024
Veröffentlichung: 1. Januar 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01S7/4865G01S7/497G01S17/14G01S7/487// G01S7/4863

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: STMicroelectronics International N.V.
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 STMicroelectronics International

Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.

733 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von