Verfahren und Anlage zum Ermitteln einer Einrichthöhe an einer Tiegeleinheit
EP4495300
Art A1
22. Januar 2025
Anmelder: Siltronic AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4495300
- Aktenzeichen
- EP23186143
- Anmeldetag
- 18. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 22. Januar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C30B29/06C30B11/00C30B15/00C30B35/00G01B11/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Siltronic AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Siltronic
Deutscher Halbleiterzulieferer mit Sitz in München. Siltronic stellt hochreine Siliziumwafer für die Chip- und Elektronikindustrie her.
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