Testzeitoptimierung mit Wenigen Langsamen Scan-Pads
EP4495610
Art A1
22. Januar 2025
Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4495610
- Aktenzeichen
- EP24179019
- Anmeldetag
- 30. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 22. Januar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics International N.V.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
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