Verfahren zum Testen Synchroner Domänen Während eines Blockierten Tests
EP4513206
Art A1
26. Februar 2025
Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4513206
- Aktenzeichen
- EP24181417
- Anmeldetag
- 11. Juni 2024
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185G01R31/317G06F1/06G06F1/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics International N.V.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
STMicroelectronics International
Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.
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