Schätzung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einer Sensorpunktwolke auf Basis von Sichtsensordaten
EP4513226
Art A1
26. Februar 2025
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4513226
- Aktenzeichen
- EP24194289
- Anmeldetag
- 13. August 2024
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/41G01S7/48G01S13/86G01S13/931G06V20/58
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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