Halbautomatisches Segmentierungssystem für Partikelmessungen aus Mikroskopiebildern
EP4515427
Art A1
5. März 2025
Anmelder: Merck Patent GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4515427
- Aktenzeichen
- EP23721745
- Anmeldetag
- 26. April 2023
- Veröffentlichung
- 5. März 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F18/40G06N3/08G06V20/69
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Merck Patent GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Merck KGaA
Deutsches Pharma- und Chemieunternehmen mit Sitz in Darmstadt. Aktiv in Biopharmazeutika, Life-Science-Technologien sowie elektronischen Materialien für Halbleiter- und Displayindustrie. Nicht zu verwechseln mit dem US-Unternehmen Merck & Co.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
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