Ophthalmische Untersuchungsvorrichtung und Ophthalmisches Untersuchungsverfahren
EP4516205
Art A1
5. März 2025
Anmelder: OSAKA UNIVERSITY, TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4516205
- Aktenzeichen
- EP24197251
- Anmeldetag
- 29. August 2024
- Veröffentlichung
- 5. März 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B3/08A61B3/103
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- OSAKA UNIVERSITY
TOPCON CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Louis Pöhlau Lohrentz
Louis Pöhlau Lohrentz · Nürnberg