Vorrichtung zur Messung Optischer Kennwerte und Verfahren zur Messung Optischer Kennwerte

EP4517298 Art A1 5. März 2025

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4517298
Aktenzeichen: EP23796263
Anmeldetag: 21. April 2023
Veröffentlichung: 5. März 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/17G01N21/49

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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