Inspektionsvorrichtung, Inspektionssystem, Steuerungsvorrichtung, Inspektionsverfahren und Programm

EP4517309 Art A1 5. März 2025

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4517309
Aktenzeichen
EP22940268
Anmeldetag
28. April 2022
Veröffentlichung
5. März 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/90G01N21/88
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NEC Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

18.204 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen