Zugriffsprüfung für Gestapelte Halbleiterbauelemente und Zugehörige Systeme und Verfahren

EP4521409 Art A1 12. März 2025

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4521409
Aktenzeichen
EP24199201
Anmeldetag
9. September 2024
Veröffentlichung
12. März 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/48G11C29/02G11C29/12G11C29/24// G11C5/02G11C5/06G11C29/04H01L21/66H01L25/065H01L25/18
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

3.194 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen