Bipolartransistor und Verfahren zur Herstellung eines Bipolartransistors

EP4525047 Art B1 18. Februar 2026

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4525047
Aktenzeichen
EP23197929
Anmeldetag
18. September 2023
Veröffentlichung
18. Februar 2026
Erteilung
18. Februar 2026
Rechtsraum
EP
IPC
H10D10/01H10D10/80H10D62/17
Offizieller Volltext

Abstract

A bipolar transistor and a method of making a bipolar transistor. The method includes providing a semiconductor substrate having a major surface, one or more layers located beneath the major surface for forming an intrinsic base, and a collector. The method also includes depositing a first oxide layer on the major surface, depositing a second oxide layer on the first oxide layer, and depositing an extrinsic base layer on the second oxide layer. The method further includes forming an emitter window through the extrinsic base layer. The method also includes removing at least a part of the second oxide layer to form a first cavity and forming an initial part of a base link region in the first cavity. The method also includes removing at least a part of the first oxide layer to form a second cavity and filling the second cavity to form a completed base link region.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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