Probenanalysegerät und Verfahren zur Bestimmung von Schmutz auf einem Platzierungsteil in dem Probenanalysegerät

EP4535007 Art A1 9. April 2025

Anmelder: SYSMEX CORPORATION, EIKEN CHEMICAL CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4535007
Aktenzeichen: EP24203460
Anmeldetag: 30. September 2024
Veröffentlichung: 9. April 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: SYSMEX CORPORATION
EIKEN CHEMICAL CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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