Ortsspezifischer Probabilistischer Ansatz zur Vorhersage der Defektbildung in der Generativen Fertigung
EP4545220
Art A1
30. April 2025
Anmelder: RTX Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4545220
- Aktenzeichen
- EP24207592
- Anmeldetag
- 18. Oktober 2024
- Veröffentlichung
- 30. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B22F10/28B22F10/85B33Y10/00B33Y50/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RTX Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
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