Verfahren zur Lokalisierung eines Interessierenden Bereichs in einer Probe und Mikrobearbeitung der Probe mit einem Geladenen Teilchenstrahl
EP4562392
Art A1
4. Juni 2025
Anmelder: Delmic IP B.V., Delmic B.V., Technische Universiteit Delft 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4562392
- Aktenzeichen
- EP23741807
- Anmeldetag
- 7. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 4. Juni 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N1/06G01N21/64G01N1/28G01N1/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Delmic IP B.V.
Delmic B.V.
Technische Universiteit Delft - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
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Vertreten von
Peters, Sebastian Martinus
Den Haag, Niederlande
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