Verbessertes Deflektometrieverfahren und Zugehöriges System

EP4565844 Art A1 11. Juni 2025

Anmelder: Centre National de la Recherche Scientifique 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4565844
Aktenzeichen: EP23744838
Anmeldetag: 31. Juli 2023
Veröffentlichung: 11. Juni 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Centre National de la Recherche Scientifique
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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