Vermessungssystem, Vermessungsverfahren und Vermessungsprogramm
EP4567378
Art A1
11. Juni 2025
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4567378
- Aktenzeichen
- EP23849726
- Anmeldetag
- 22. Mai 2023
- Veröffentlichung
- 11. Juni 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Louis Pöhlau Lohrentz
Louis Pöhlau Lohrentz · Nürnberg