Verfahren und Vorrichtung zur Reduzierung der Speichergrösse zum Speichern von Testinhalt in einer Kanalkarte in einer Automatischen Testeinrichtung zum Testen einer Integrierten Schaltung
EP4567815
Art A3
12. November 2025
Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4567815
- Aktenzeichen
- EP24210395
- Anmeldetag
- 1. November 2024
- Veröffentlichung
- 12. November 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/56G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- INTEL Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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