Verfahren zur Verbesserten Umfelddatenerfassung
EP4575403
Art A1
25. Juni 2025
Anmelder: LEICA GEOSYSTEMS AG 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4575403
- Aktenzeichen
- EP23217784
- Anmeldetag
- 18. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C21/20G06T7/73
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LEICA GEOSYSTEMS AG
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Leica Geosystems
Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.
634 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
-
Kaminski Harmann
Kaminski Harmann · Vaduz